抗体C端K欠損比率分析

抗体薬物の末端変異は抗体のN末端とC末端の変異に分けられます。N末端の一般的な変異は、通常、N末端信号配列の不完全な処理によって引き起こされ、N末端メチオニン残基が除去されないか、またはN末端のGluおよびGln残基が部分的または完全にピログルタミン酸を形成することによります。C末端の一般的な変異は、配列の短縮であり、例えば、モノクローナル抗体の重鎖のC末端のLys残基の欠失、K欠失と呼ばれるものです。タンパク質末端のこれらの変化は、発酵条件やタンパク質精製バッファーの違いによって発生する可能性があります。例えば、B細胞ハイブリドーマから産生されたモノクローナル抗体とCHO細胞転写腫瘍から得られたモノクローナル抗体を利用した場合、C末端リジンの欠失割合に非常に顕著な変異があることが報告されています。別の事例として、異なるモノクローナル抗体が比較的小さな調整を行った際に、C末端リジンの割合にも顕著な変化が見られます。もちろん、これらは一般的な事例に過ぎません。しかし、N末端およびC末端のシーケンシングは非常に重要な品質管理分析であり、ICH Q6Bバイオテクノロジー製品の試験手順ガイドラインではC末端のK欠失の測定が必須とされています。IEF、cIEF、イオン交換クロマトグラフィー、LC-MSなどの方法が、C末端リジンの変異分析に一般的に使用されています。現時点では、サンプルをトリプシン消化し、LC-MSでサンプルを分析することが抗体のC末端K欠失割合を検出する比較的成熟した一般的な方法です。

抗体C末端加工の4つのタイプ

日本語/英語プロジェクト報告

技術報告では、百泰派克が詳細な日本語と英語のバイリンガル技術報告を提供します。報告には以下が含まれます：

1. 実験手順（日本語/英語）
2. 関連する質量分析パラメーター（日本語/英語）
3. 質量分析画像
4. 元データ
5. 抗体C末端K欠失割合情報

抗体C末端K欠失割合測定のワンストップサービス

注文-サンプルを送付するだけで完了
百泰派克のワンストップサービス完了：サンプル処理-機器分析-データ分析-プロジェクト報告

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